fau（光纤阵列）高低温贮存试验箱是用于评估fau在贮存与运输条件下的光学性能衰减、材料老化、胶水脱落及热胀冷缩引起的位移的试验设备，其主要试验范围在 -40℃至 85℃或 -65℃至 150℃。

测试标准：

telcordia gr-1221-core：《光无源器件可靠性保证要求》

telcordia gr-1209-core：《光无源器件通用规范》

gb/t 2423 系列环境试验标准

gb 18310.22-2003：《纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序》

技术参数：

设备用途：

fau光纤阵列高低温贮存试验箱主要用于模拟产品在运输、仓储及长期停机状态下所经历的极端温度环境，评估fau组件在高温和低温条件下的：

a.插入损耗（il）

b.变化回波损耗（rl）

c.变化光纤阵列间距稳定性

d.v槽基板与胶层结合强度

e.光纤与芯片耦合精度

f.封装结构可靠性

g.热膨胀失配影响

为什么要用fau光纤阵列高低温贮存试验箱？

fau（fiber array unit，光纤阵列单元）是硅光芯片、cpo（共封装光学）、400g/800g高速光模块中的核心无源光器件，其作用是实现光纤与光芯片之间的高精度耦合。fau通常由v型槽基板、单模/多模光纤、盖板及胶粘材料组成，对温度变化十分敏感，因此需要进行高低温贮存可靠性验证。

如有fau光纤阵列高低温贮存试验箱的选型疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。