根据《gb/t 33768-2017 通信用光电子器件可靠性试验方法》标准的要求，光模块需要完成高低温试验，下面，我们来看看光模块的高低温老化试验程序。

光模块的高低温老化程序：

试验设备：环仪仪器 光模块高低温测试系统

老化目的：确定光电子器件能否经受高温/低温下运输和贮存，以保证光电子器件经受低温后能在规定条件下正常工作。

老化依据：gb/t 33768-2017 通信用光电子器件可靠性试验方法

老化内容：

1.高温老化

贮存温度：(85±2)℃或最高贮存温度；

贮存时间：2000 h。

2.低温老化

贮存温度：（-40±2)℃或最低贮存温度；

贮存时间：72 h。

3.老化程序：

a）试验前测试试样的主要光电特性；

b）把试样贮存在规定试验条件的低温试验箱中，在开始计时之前应有足够降温时间，使所有试样处在规定的温度下，温度传感器应位于工作区内最高温度的位置处；

c)在达到规定的试验时间后，把试样从试验环境中移出，放置24h，使之达到标准测试条件，并对试样光电特性进行测试。

试验后检测：

在试验完成后，应在48h内完成试样的主要光电特性测试，并进行目检。当有规定时，也可以在试验过程中的某些时刻进行测试。

以上就是光模块高低温测试系统对光模块的老化程序，如有试验疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。