常温固态硬盘bit老化箱可以用于m2、sata接口固态硬盘的bit老化测试，常温bit测试有多个测试项目，下面为大家做简单介绍。

常温固态硬盘bit老化箱的测试项目：

测试设备：环仪仪器 常温固态硬盘bit老化箱

测试依据：yd t 3824-2021 面向互联网应用的固态硬盘测试规范

测试项目：

1.吞吐量：主要测硬盘的吞吐量和延迟，测试时间10min。

2.iops：测量硬盘的iops和时延，将读写比例分别设置为随机: 100%read、90%read10%write、70%read30%write 、 50%read50%write、30%read702write、10%read90% write、100%write。

3.写饱和测试（fio）：测量被测设备对持续随机4kib写的iops曲线，测试时间24h。

4.trim前后比较测试：比较被测ssd在trim命令激活后的恢复能力（可选)，测试记录吞吐量、iops及对应时延的时间曲线。

5.交叉刺激恢复测试：主要测量sut在不同相邻负载下的相互作用。

6.硬盘压力测试：测试硬盘在压力运行下的运行情况。

7.复位压力测试：测试硬盘复位能力，采用高脚自动化测试，重复1~3100次。